Вопросы по дисциплине:
Метрическая аналитика
Сбросить фильтр
| № | Вопрос | Действия |
|---|---|---|
| 281 |
|
Открыть |
| 282 | При рассмотрении разрешающей способности фотоэмиссионного метода следует различать аппаратурную разрешающую способность R, которая определяется | Открыть |
| 283 |
|
Открыть |
| 284 | Символьное обозначение зависимости производных величин от основных, называется: | Открыть |
| 285 |
|
Открыть |
| 286 | Измерения, проводимые косвенным методом, при котором искомое значение физической величины определяется на основании результатов прямых измерений других физических величин, функционально связанных с искомой величиной, называются: | Открыть |
| 287 | Вторичный эталон, предназначенный для проверки сохранности и неизменности государственного эталона и для замены его в случае порчи или утраты, называется: | Открыть |
| 288 |
|
Открыть |
| 289 | Способ измерение проводится дважды так, чтобы неизвестная по размеру погрешность входила в результаты с противоположными знаками, называется: | Открыть |
| 290 | Каких не существует средств измерений длин и углов в зависимости от физического принципа, положенного в основу построения измерительного преобразователя прибора: | Открыть |