Вопросы по дисциплине:
Метрология и стандартизация
Сбросить фильтр
| № | Вопрос | Действия |
|---|---|---|
| 31 |
|
Открыть |
| 32 | При рассмотрении разрешающей способности фотоэмиссионного метода следует различать аппаратурную разрешающую способность R, которая определяется | Открыть |
| 33 |
|
Открыть |
| 34 | Символьное обозначение зависимости производных величин от основных, называется: | Открыть |
| 35 |
|
Открыть |
| 36 | Измерения, проводимые косвенным методом, при котором искомое значение физической величины определяется на основании результатов прямых измерений других физических величин, функционально связанных с искомой величиной, называются: | Открыть |
| 37 | Вторичный эталон, предназначенный для проверки сохранности и неизменности государственного эталона и для замены его в случае порчи или утраты, называется: | Открыть |
| 38 |
|
Открыть |
| 39 | Способ измерение проводится дважды так, чтобы неизвестная по размеру погрешность входила в результаты с противоположными знаками, называется: | Открыть |
| 40 | Каких не существует средств измерений длин и углов в зависимости от физического принципа, положенного в основу построения измерительного преобразователя прибора: | Открыть |